Limba:
Română
English
Ajutor
Intră în cont
Biblioteca UTCB
Limba
Engleză
(1)
Coperţi
circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor
Etichetat
Afişează MARC
Subiect Tematic
:
circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor
LDR
00194nx j2200049
001
133199
250
$a
circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor
901
$a
a
$b
a
Lucrări:
1 lucrari in 1 publicatii in 1 limbi
1 records Page 1 of 1
1
Transient Errors Impact Analysis for Sub-Powered CMOS Circuits at Multiple Levels of Abstraction of a Digital System
de: Nimară, Sergiu
(Text tipărit)
Subiecte
știința și tehnologia computerelor prelucrarea datelor
circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor
Se procesează
...
Vă rugăm să schimbaţi parola
