circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor
|
LDR | 00194nx j2200049 | |
---|---|---|
001 | 133199 | |
250 | $a circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor | |
901 | $a a $b a |
Lucrări:
1 lucrari in 1 publicatii in 1 limbi
1 records Page 1 of 1
- 1
Transient Errors Impact Analysis for Sub-Powered CMOS Circuits at Multiple Levels of Abstraction of a Digital System
de:
Nimară, Sergiu
(Text tipărit)