Biblioteca UTCB

  • Simulation Based Reliability Assessment of Quantum Circuits
  • Tipul înregistrării: Text tipărit: monografic
    Autor: Boncalo, Oana
    Conducătorul tezei: Vlăduţiu, Mircea
    Responsabilitate: Oana Boncalo
    Responsabilitate secundară: cond.ştiinţific prof.dr.ing. Mircea Vlăduţiu
    Editura: Editura Politehnica
    Locul publicării: Timişoara
    Anul Ediției: 2008
    ISBN: 978-973-625-796-4
    Descriere: 199 p. : fig.; 24 cm
    Note: Universitatea "Politehnica" din Timişoara. Teză de doctorat. Cond.ştiinţific prof.dr.ing. Mircea Vlăduţiu
    Note: Evaluarea fiabilităţii circuitelor cuantice bazată pe simulare
    Limba: Engleză
    Subiect: injecţie de defecte
    Subiect: grafuri Markov
    Subiect: diagrame de fiabilitate
    Subiect: Schimb documentar
    Subiect: Cărți românești
    Subiect: Teze de doctorat
    Subiect: 58
    Subiect: 2009
    Cota topografică: 004.31/B 67
    Clasificare: 004.31
    Note conţinut (cuprins): Evaluarea fiabilităţii circuitelor cuantice bazată pe simulare
    Note conţinut (cuprins): injecţie de defecte, grafuri Markov, diagrame de fiabilitate
Unităţi
Evaluări
Exportă
Filiala de unde se ridică
Vă rugăm să schimbaţi parola